9.7. Влияние кривизны Земли и рефракции на результаты нивелирования

На рис. 9.8 а, б показаны: точка 1 – отсчет по рейке В в том случае, если бы луч света распространялся прямолинейно; точка 2 – фактический отсчет по рейке; точка 3 – место пересечения рейки уровенной поверхностью.

Из треугольника O1I (рис. 9.8 б) имеем (R + h)² = d², где R  радиус Земли и d – расстояние до рейки. Следовательно, кривизна Земли изменяет отсчет по рейке на величину h d² (2R).

Радиус кривизны светового луча равен R k, где – k коэффициент рефракции. Поэтому аналогично предыдущему получаем r kd² (2R).

Совместное влияние кривизны Земли и рефракции равно

f = h  r = .

В среднем в земной атмосфере k = 0,14. При этом f = . Так, еслиd = 300 м, то f = 6 мм.

При нивелировании из середины влияние кривизны Земли полностью, а влияние рефракции в значительной степени нейтрализуется.

Вблизи к земной поверхности рефракция значительно возрастает, поэтому высоту луча визирования менее 0,2 м не допускают.